全浮地式設(shè)計，具有出色的穩(wěn)定性和精確度，具備所有基礎(chǔ)電化學(xué)以及電分析測試功能。
● 多種功能方法，包含OCP，恒電位，恒電流，極化曲線，CV，LSV，DPV等
● 電壓控制范圍：±10V，槽壓為±21V
● 電流控制范圍：±2.0A
● 電位分辨率：10μV，電流分辨率：1pA（可延伸至100fA）
● 適合電分析、常規(guī)電化學(xué)測試領(lǐng)域
產(chǎn)品介紹
CS電化學(xué)工作站采用全浮地式設(shè)計，具有出色的穩(wěn)定性和精確度，先進(jìn)的硬件和功能完善的軟件，為涉及能源、材料、生命科學(xué)、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了優(yōu)秀的科研平臺。
應(yīng)用
（1）能源材料（鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等）、先進(jìn)功能材料以及傳感器的性能研究；
（2）電化學(xué)分析研究；
（3）電合成、電沉積（電鍍）、陽極氧化、電解等反應(yīng)機(jī)理研究；
(4）金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價；
（5）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率的快速評價。
硬件特點(diǎn)
● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器
● 內(nèi)置FRA頻響分析儀，頻率范圍 10μHz ~1MHz
● 高帶寬高輸入阻抗的放大器
● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器
● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計
● 電壓控制范圍：±10V，槽壓為±21V
● 電流控制范圍：±2.0A
● 電位分辨率：10μV，電流分辨率：1pA（可延伸至100fA）
軟件特點(diǎn)
① 數(shù)據(jù)分析
伏安曲線的平滑、積分和微分運(yùn)算，計算各氧化還原峰的峰電流、峰電位和峰面積等；
極化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動力學(xué)解析，計算Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，極限擴(kuò)散電流、極化電阻Rp和腐蝕速率等，還可由電化學(xué)噪聲譜計算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
② 實時存儲
CS Studio實時存儲測量數(shù)據(jù)，即使因斷電導(dǎo)致測試中斷，中斷之前的數(shù)據(jù)也會自動保存。
③ 定時測量
CS Studio測試軟件具有定時測量功能， 對于某些需要研究體系隨時間變化特征時，可提前設(shè)好測試參數(shù)與間隔時間，讓儀器在無人值守下自動定時測量，為實驗提供方便。
技術(shù)優(yōu)勢
①極化曲線
具有線性極化和Tafel極化曲線測量功能，用戶可設(shè)定循環(huán)極化曲線的陽極回掃電流（鈍化膜擊穿電流），來確定材料的點(diǎn)蝕電位和保護(hù)電位，評價晶間腐蝕敏感性。軟件采用非線性擬合算法解析極化曲線，可用于材料耐蝕性和緩蝕劑性能的快速評價。
② 伏安分析
能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯伏安（SCV）、方波伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）、交流伏安（ACV）、溶出伏安等多種電分析方法，集成峰面積、峰電流計算和標(biāo)準(zhǔn)曲線分析功能。
③ 電化學(xué)噪聲
采用高阻跟隨器和零阻電流計測量腐蝕體系自發(fā)的電位與 電流波動，可用于點(diǎn)蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕和應(yīng)力腐蝕開裂 等局部腐蝕研究。通過噪聲譜分析，可評估亞穩(wěn)態(tài)蝕點(diǎn)或裂紋的誘導(dǎo)、生長和死亡過程�；谠肼曤娮韬忘c(diǎn)蝕指數(shù)計算，也可用于局部腐蝕監(jiān)測。
④全浮地測量
CS系列電化學(xué)工作站采用全浮地式工作電極，可用于工作電極本身接地體系的電化學(xué)研究，如用于高壓釜電化學(xué)測試（釜體接地），大地中金屬構(gòu)件（橋梁、混凝土鋼筋）的在線腐蝕研究等。
⑤正反饋IR補(bǔ)償
啟動IR補(bǔ)償后，電化學(xué)工作站會增加一個額外模擬反饋路徑，通過測量電解池電流，啟用正反饋補(bǔ)償，硬件電路增加反饋信號，自動對Rs上的壓降進(jìn)行補(bǔ)償。
⑥自定義方法
支持用戶自定義組合測量，用戶可以設(shè)定定時循環(huán)進(jìn)行某一測試方法或多種方法的組合測試，用于無人值守下的定時自動測量；
提供API通用接口函數(shù)和開發(fā)實例，方便用戶二次開發(fā)和自定義測試方法；
提供用戶自定義腳本編寫范例，用于實現(xiàn)您獨(dú)特的電化學(xué)實驗技術(shù)。
技術(shù)指標(biāo)
硬件參數(shù)指標(biāo)
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恒電位控制范圍：±10V |
恒電流控制范圍：±2.0A |
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電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV |
電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù) |
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電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) |
電流靈敏度：1pA |
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電位上升時間：﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) |
電流量程：2nA～2A, 共10檔 |
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參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF |
最大輸出電流：2.0A |
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槽壓輸出：±21V |
電流掃描增量：1mA @1A/mS |
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CV和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s |
電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
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CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s |
DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
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SWV頻率：0.001～100KHz |
CV的最小電位增量：0.020mV |
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AD數(shù)據(jù)采集：16bit@3.6MHz，20bit @1KHz |
電流與電位量程：自動設(shè)置 |
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DA分辨率：16bit，建立時間：1μS |
低通濾波器 ：8段可編程 |
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通訊接口：USB2.0、RJ45網(wǎng)口 |
儀器重量：7.6Kg |
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外形尺寸（cm）：36.4(W)*32.0(D)*13.8(H) |
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配置
1）儀器主機(jī)1臺
2) CS Studio測試與分析軟件1套
3）模擬電解池1個
4）電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
5）電極電纜線1條
6）電腦（選配*）
功能方法
CS單通道系列不同型號功能方法比較
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功能方法 |
CS150M |
CS300M |
CS310M |
CS350M |
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穩(wěn)態(tài)極化 |
開路電位（OCP） |
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恒電位極化（i-t曲線） |
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恒電流極化 |
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動電位掃描（Tafel曲線） |
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動電流掃描（DGP） |
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電位掃描-階躍 |
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暫態(tài)極化 |
任意恒電位階梯波 |
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任意恒電流階梯波 |
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恒電位階躍（VSTEP） |
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恒電流階躍（ISTEP） |
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計時分析 |
計時電位法（CP） |
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計時電流法（CA） |
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計時電量法（CC） |
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伏安分析 |
線性掃描伏安（LSV） |
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線性循環(huán)伏安（CV） |
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階梯循環(huán)伏安（SCV） |
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方波伏安（SWV） |
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差分脈沖伏安（DPV） |
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常規(guī)脈沖伏安（NPV） |
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差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV） |
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交流伏安（ACV） |
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二次諧波交流伏安（SHACV） |
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傅里葉變換交流伏安（FTACV） |
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電流檢測 |
差分脈沖電流檢測（DPA） |
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雙差分脈沖電流檢測（DDPA） |
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三脈沖電流檢測（TPA） |
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積分脈沖電流檢測（IPAD） |
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溶出伏安 |
電位溶出分析（PSA） |
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線性掃描溶出伏安（LSSV） |
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階梯溶出伏安（SCSV） |
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方波溶出伏安（SWSV） |
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差分脈沖溶出伏安（DPSV） |
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常規(guī)脈沖溶出伏安（NPSV） |
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差分常規(guī)脈沖溶出伏安（DNPSV） |
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交流阻抗 |
頻率掃描-電位控制模式（EIS-V） |
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頻率掃描-電流控制模式（EIS-I） |
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電位掃描（IMPE,Mott-Schotty) |
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時間掃描-電位控制模式 |
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時間掃描-電流控制模式 |
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充放電測試 |
電池充放電 |
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恒電流充放電（GCD） |
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恒電位充放電 |
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恒電位間歇滴定技術(shù)（PITT） |
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恒電流間歇滴定技術(shù)（GITT） |
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雙恒測量 |
氫擴(kuò)散測試（HDT） |
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盤環(huán)電極測試 |
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擴(kuò)展測量 |
電化學(xué)噪聲（EN） |
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電偶腐蝕測量（ZRA） |
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電化學(xué)溶解/沉積 |
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控制電位電解庫倫法（BE） |
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動電位再活化法（EPR） |
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溶液電阻測量 |
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循環(huán)極化曲線（CPP） |
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注：*氫擴(kuò)散及旋轉(zhuǎn)盤環(huán)電極測試需配置CS1002恒電位/恒電流儀或采用CS2350M雙恒電位儀。
*產(chǎn)品3年質(zhì)保。
商品評價
實驗室純水機(jī)、超純水機(jī)
實驗室離心機(jī)
